19.下列關於感應耦合電漿（ICP）放射光譜法之敘述，何者錯誤？

(A)工作氣體為氫氣
(B)使用感應線圈激發高溫電漿
(C)激發頻率為無線電波區段
(D)須使用高效能單色光器進行分光

答案：登入後查看
統計： A(3373), B(65), C(584), D(268), E(0) #3380650

詳解 (共 8 筆)

#6292840
(A)電漿偶合(Inducti...
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#6542805
最完整的光譜儀器整理表格~

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#6298728
儀器 電感耦合電漿體原子發射光譜法...
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#7315056
增強一下印象，ICP高溫下等離子體的氬氣會像這樣發出紫光
我都記三上悠亞"氬"，愛吸屁"ICP"69b29be93b941.jpg
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#6550514
原子光譜法：原子放射光譜（AES）與原子...
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#6550441
ICP vs 傳統 AES 的比較 ...
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#7429988
補充一些進階題練習 :
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感應耦合電漿技術除了可連接光譜儀（ICP-OES / ICP-AES）外，亦常與質譜儀連接（ICP-MS）。下列關於 ICP-MS 的敘述，何者正確？
(A) ICP 在此系統中主要是扮演「光源」的角色
(B) 樣品在 ICP 中被轉化為陽離子後，再送入質譜儀依質荷比（m/z）分離
(C) ICP-MS 的偵測極限（LOD）通常比 ICP-OES 還要差
(D) 質譜儀內部必須維持在與 ICP 相同的大氣壓環境中
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答案:B
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在火焰原子吸收光譜（FAAS）分析高鹽度（如海水）樣品時，由於未完全氣化的固體微粒散射光源，或是基質分子吸收了光源，導致背景吸光度異常偏高。下列哪一種方法「無法」有效消除這種背景光譜干擾？
(A) 使用氘燈背景校正系統
(B) 使用謝曼效應（Zeeman effect）背景校正系統
(C) 使用連續光源與高解析度單色光器
(D) 加入高濃度的氯化銫（CsCl）作為電離抑制劑
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答案:D
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在火焰原子吸收光譜（AAS）分析低電離能元素（如鈉 Na、鉀 K、鋇 Ba）時，若火焰溫度過高，容易導致基態原子流失過多電子而變成離子，進而使測得的吸光度訊號下降。為了抑制此種「電離干擾」，通常會採取下列何種措施？
(A) 加入高濃度的鑭離子作為釋放劑
(B) 改用線寬更窄的空心陰極燈（HCL）
(C) 加入更易電離的鹼金屬（如銫 Cs 或rubidium Rb）作為電離緩衝劑
(D) 提高火焰的燃氣流量以進一步增加火焰溫度
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答案:C
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#6295148

(A)氬氣

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私人筆記 (共 2 筆)

私人筆記#6681042
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原子光譜測定法總整理https://ze...
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私人筆記#8050747
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這題考的是感應耦合電漿（Inducti...
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