阿摩線上測驗
37. 下列有關非破壞探傷試驗中之磁粉探傷法的敘述，何者正確？
(A) 可用於非磁性材料表面缺陷之探傷
(B) 材料缺陷部分的方向須與磁力線平行
(C) 材料缺陷的部分必須在表面附近
(D) 材料缺陷部分的導磁率須大於磁粉本身之導磁率
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統計： A(111), B(85), C(675), D(139), E(0) #3126358
統計： A(111), B(85), C(675), D(139), E(0) #3126358
