50. 原子力顯微鏡(AFM, Atomic Force Microscope)不依賴穿隧電流，因此可以用來觀察非導體。它主要量測探針與樣品表面的哪一種微觀力？ (A)強交互作用力 (B)弱交互作用力 (C)凡得瓦力與原子間接觸排斥力(Van der Waals / Pauli repulsion) (D)重力