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技檢◆化學-無機物檢驗-甲級
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114年 - 03002 化學─無機物檢驗 甲級 工作項目 02:無機微量分析 51-100(2025/10/21 更新)#132505
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95. 下列有關比爾定律的敘述,何者正確?
(A)入射波長固定下,吸收度與溶液濃度成反比
(B)莫耳吸收係數會隨著入射光改變而改變
(C)溶液濃度愈高,造成比爾定律的偏差愈小
(D)入射波長與溶液濃度固定下,光徑長度愈長吸收度愈小 。
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B1 · 2025/10/28
#6983112
1. 題目解析 本題是關於比爾定律(Be...
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96. 在極譜分析中,質量傳送的唯一機構是 (A)吸收 (B)擴散 (C)滴定 (D)接觸 。
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97. 有關極譜分析中各電流的敘述,何者正確? (A)擴散電流是極譜分析時極限電流與殘餘電流間之和 (B)擴散電流與分析物濃度成反比 (C)充電電流是一種非法拉第電流,表示電荷被攜帶跨過電極/溶液界面,進行氧化/還原程序 (D)充電電流是殘餘電流來源之一 。
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98. 有關極譜分析的滴汞電極優缺點的敘述,何者正確? (A)氫離子還原具有特別高的過電壓,使鋅和錫等金屬離子可以在鹼性溶液中沉積 (B)會連續產生新的金屬表面,因此電極的特性和其過去歷史有關 (C)在任何給予的電位立即具有重現的平均電流 (D)汞易被氧化,限制汞作為陰極的使用 。
#3641767
99. 有關原子吸收光譜有機溶劑的角色敘述,何者正確? (A)可增加霧化器的效果 (B)適合選用可溶性的有機溶劑 (C)需較多量的有機溶劑,使金屬離子從大量水溶液中移出 (D)須使用較高的燃料/氧化劑比例,以抵銷有機溶劑造成的影響 。
#3641768
100. 下列何者不為光譜分析? (A)發射 (B)吸收 (C)折射 (D)螢光 。
#3641769
101. X-射線繞射法最常用來鑑定物質的何種特性? (A)官能基種類 (B)分子質量 (C)化學鍵能強弱 (D)晶體結構 。
#3641770
102. 下列敘述,何者正確? (A)光學顯微鏡:使用可見光,可分析晶體結構及化學成分分析 (B)X 光繞射分析儀:使用 X 光,鑑別率約為 1μm ,可分析化學鍵能強弱 (C)電子顯微鏡:使用電子束,可觀察微細結構,分析化學鍵能強弱 (D)電子顯微鏡:使用電子束,可觀察微細結構,分析晶體結構及作化學成分分析 。
#3641771
103. 下列有關電子顯微鏡的敘述,何者錯誤? (A)利用電子束和電子透鏡代替光束和光學透鏡,可得樣品的細微結構 (B)穿透式電子顯微鏡的加速電壓與分辨原子的能力無關 (C)穿透式電子顯微鏡利用電磁透鏡收集穿透樣品的電子,並放大成像,顯示物體内部超微結構 (D)掃描式電子顯微鏡利用二次電子成像,觀察樣品表面立體的結構 。
#3641772
104. 下列有關電子顯微鏡像能的像差種類的敘述,何者正確? (A)提高電子束波長或提高透鏡品質(半張角)可降低繞射像差 (B)降低電子束直徑或提高電子束半張角可降低球面像差 (C)因透鏡磁場分佈均勻所致,可利用像差調節器修正散光像差 (D)因高壓系統或透鏡電流不穩定,降低加速電壓並使用場發射電子槍,可降低波長散佈像差 。
#3641773
105. 下列有關掃描式電子顯微鏡的電子槍敘述,何者正確? (A)一般電子槍材料須考量低功函數、高熔點、高機械強度 (B)冷發式的電子槍中的陰極半徑大,能量散佈大 (C)冷發式的電子槍電子束聚焦小,工作溫度高 (D)蕭基場發射式電子槍為提升功函數,在鎢絲表面鍍上一層 ZnO 。
#3641774
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