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工程統計學與品質管制概要
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112年 - 112 公務升官等考試_薦任_工業工程:工程統計學與品質管制#117326
> 申論題
題組內容
四、積體電路是透過在矽晶圓上一系列加工步驟製造而成,工程師進行一項 實驗研究清洗(因子 A)及蝕刻(因子 B)步驟對產量的影響,結果如下表。
請計算:
(二)繪製因子 A 及因子 B 之主效應圖。
相關申論題
(三)繪製交互作用圖。
#501473
(四)依上述結果說明因子 A 及 B 的主效應及交互作用。
#501474
(一)請繪製直方圖。
#501475
(二)瓶子裡裝的汽水量較高可能性落在那個區間範圍內?
#501476
(三)請預測下一瓶的填充量,並述明原因。
#501477
(一)此陣列共占多少位元組(Bytes)?
#501478
(二)若 A[0][0]在記憶體的位址為(03C4)16,則元素 A[5][3]的位址為何?
#501479
(三)若 A[16][2]在記憶體的位址為(10E9)16,則元素 A[5][3]的位址為何?
#501480
(一)請將下列表示式轉成後序(Postfix)(5 分)(A + B)× (C ^ (D − E) + F) – G
#501481
(二)請將下列表示式轉成中序(Infix)(5 分)AB + D ∗ EBA //+ AD ∗ C /+ CD ∗ +A − B + CD ∗ −
#501482
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