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技師◆材料分析技術
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97年 - 97 專技高考_冶金工程技師:材料分析技術#37378
> 申論題
題組內容
三、在掃描式電子顯微鏡中,試片經入射電子照射後會產生許多效應與訊號:
⑵請以圖示與文字說明各訊號的相對解析度(resolution),如:何者最佳、最差。 (10 分)
相關申論題
四、⑴表面化學分析常會用到縱深分析(depth profile),如何進行縱深分析?縱深分析 有何副作用?縱深分析所得的結果通常與何種時間有關?舉例說明之。(9 分)
#106633
⑵為何表面分析(如 Auger、XPS)通常需要在超高真空(ultra high vacuum)中進 行?(8 分)
#106634
⑶試述聚焦離子束(focused ion beam)的原理及用途。(8 分)
#106635
⑴計算此水準儀之視準軸誤差(仰角為正,俯角為負)。(10 分)
#106636
⑵若各視讀數之中誤差均為 0.001 m,請分析此視距法所得之精度是否滿足此定樁 法之檢定。(10 分)
#106637
⑴提出校正程序,並繪圖說明校正過程中每一步驟所觀察到的現象(氣泡,水準管 軸,直立軸,… 之關係)。(10 分)
#106638
⑵若欠缺水準管校正之工具,此經緯儀是否仍可使用?若是,並說明使用方法,若 否,並說明理由。(僅列“是”或“否”者不給分)(10 分)
#106639
⑴自由度為若干?(10 分)
#106640
⑵探討應閉合之條件。(10 分)
#106641
五、高樓林立的都市透空度較差,使用 GPS(全球衛星定位系統)進行地表定位時可用 之衛星較集中於天頂或沿道路上空。請分析此時測點三維定位誤差最大的方向。 (20 分)
#106643
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