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半導體工程
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104年 - 104 高等考試_三級_電子工程:半導體工程#39446
> 申論題
四、在 p 通道 MOSFET 製程技術中,利用深淺不同之離子佈植進行臨限電壓調整 (VT-adjust)及抗擊穿(antipunch-through)佈植,請以 p-MOSFET 元件結構剖面 圖說明兩佈植區域位置及其實施理由。(15 分)
相關申論題
⑴ PSG 用途為何及需摻雜何種元素。
#117696
⑵ BPSG 用途為何及需摻雜何種元素。
#117697
⑶ FSG 用途為何及需摻雜何種元素。
#117698
⑴ n =?(8 分)
#117699
⑵ DC bias =?(7 分)
#117700
⑴如果該消防局想估計一年 365 天下來的總報案次數,請協助消防局提供這一項估 計值。(5 分)
#117701
⑵請提供上述總報案次數之變異數的不偏估計值。(10 分)
#117702
⑶請提供總報案次數之近似的 95%信賴區間。(10 分)
#117703
⑴請提供所有「每 5 個取 1 個」之系統抽樣的樣本編號。(5 分)
#117704
⑵請提供題⑴所抽中之樣本榕樹比例的抽樣分配。(10 分)
#117705
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